Page 382 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

Koautoren, Lektoren Koautoren, Lektoren, Autor

Hagen, Volker, Diplom-Physiker, 1999 Diplom, 1999-2003
Wissenschaftlicher Mitarbeiter im Bereich Rastersonden-
Mikroskopie am Institut für Angewandte Physik der Universität
Hamburg, 2004-2014 Vertriebsspezialist bei der Carl Zeiss
Microscopy GmbH, 2014 Gründung des Unternehmens M-Ima-
ging, Beratung für die Lichtmikroskopie, Hamburg, Koautor.
Volker Hagen
Hermans, Lodevicus, Diplom-Physiker, Diplom 1979 an der
Technischen Universität Eindhoven, 35 Jahre lang Siemens/
Infineon Senior Staff Engineer Contamination Control, Infine-
on, Initiator der Clear & Clean-Verbrauchsmaterial-Forschung
zusammen mit Win Labuda, Koautor, Technischer Berater des
Herausgebers.
Lodevicus Hermans

Kiggen, Heinz-Josef, Diplom-Physiker, Promotion 1979 an
der RWTH Aachen, 32 Jahre lang Quality Manager bei Texas
Instruments Deutschland GmbH in Freising, Chef-Lektor der
vorliegenden Publikation, Qualitätsberater des Herausgebers,
insbesondere für die Themen Reinheits-Überwachung und zeit-
gerechte Prüf-Intervalle.
Heinz-Josef Kiggen
Wendt, Christian, Diplom-Chemieingenieur (FH), Diplom
2012 an der Fachhochschule Lübeck, anschließend 6 Jahre
lang als Projektingenieur an der TH und Universität zu Lü-
beck tätig, seit 2018 Leiter der Forschung & Entwicklung der
Clear & Clean GmbH und verantwortlich für die Labordatener-
stellung, Koautor.

Christian Wendt
Autor und Herausgeber
Labuda, Win, Gründer des Clear & Clean-Foschungslabors für
Oberflächen-Reinheit und wischende Reinigungs-Prozeduren,
Technischer Kaufmann, Fachautor für Oberflächen-Reinheit,
Unternehmer, 1979 Gründer der Clear & Clean Werk für Rein-
technik GmbH, Autor und Mitautor von 40 Fachaufsätzen und
10 Patenten zum Thema Oberflächen-Reinheit und Verbrauchs-
material der Reintechnik.
Win Labuda

Die ehemaligen Clear & Clean-Mitarbeiter Martin Gerstmann, Stefan Haupt und Sven Siegmann waren sowohl bei der experimentellen Daten-Erstel-
lung und bei einigen Publikationen auch als Autoren oder Koautoren beteiligt. Wir danken ihnen für ihre jeweiligen Beiträge zu unserer Fachliteratur.

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