Page 340 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen
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Turner, John „A Practical Standard Procedure for Contamina-
                                                       tion Measurements on Wafer Surfaces“, Swiss Contamination
                                                       Control 3/1990, ICCCS 90, 10-14 September 1990, pp. 96-99
                                                       Behary, Nemeshwaree, Perwuelz, Anne „Atomic Force Micro-
                                                       scopy - For Investigating Surface Treatment of Textile Fibers“,
                                                       Publisher: InTech,  published online: March 23rd 2012
                                                       Belenky, B. G., Valchikhina, M. D., Vakhtina, I. A.,
                                                       Gankina, E. S., Tarakanov, O. G. „Thin-Layer Chromatogra-
                                                       phy of Oligomers“, Journal of Chromatography, 129 (1976)
                                                       115-124
                                                       Ben-Jacob, Eshel, Levine, Herbert „Muster in der Mikroben-
                                                       welt“, Spektrum der Wissenschaft, Dezember 1998
                                                       Benninghoven, Alfred „Chemische Analyse von anorganischen
                                                       und organischen Oberflächen und von dünnen Schichten mit
                                                       der statischen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie
                                                       (TOF-SIMS)“, Angewandte Chemie, Vol. 106, Issue 10,
                                                       Mai 1994, VCH Verlagsgesellschaft mbH, Weinheim
                                                       Bentley, J. M., Lloyd, P. J. „In-Line Monitoring of Particulates
                                                       in Electronic Grade Liquid Chemicals“, Swiss Contamination
                                                       Control 3/1990, ICCCS 90, 10-14 September 1990, pp. 27-30
                                                       Berg, D. M., Grimsley, T., Hammond, P., Sorenson, C. T. „New
                                                       Sonic Cleaning Technology for Particle Removal from Semicon-
                                                       ductor Surfaces“, Particles on Surfaces 2, pp. 307-315, edited
                                                       by K. L. Mittal, Plenum Press New York, Springer-Verlag US,
                                                       1989
                                                       Berthold, L. S., Keller, M. „Überwachung des organischen
                                                       Kontaminations-Potentials“, Lounges 2017, Stuttgart, Fraunho-
                                                       fer-Institut IPA
                                                       Bhattacharjee, Himansu R., Paley, Steven J. „Comprehensive
                                                       Particle and Fiber Testing for Cleanroom Wipers“, Journal of
                                                       the IEST, November/December 1998
                                                       Bhattacharjee, Himansu R., Paley, Steven J. „Evaluating
                                                       sample preparation techniques for cleanroom wiper testing“,
                                                       Micro, revised version 1997- Original: ICCCS Symposium,
                                                       Netherlands, September 1996
                                                       Bhawani, S. A., Sulaiman, O., Hashim, R., Ibrahim, M. N.
                                                       Mohamad „Analysis of Surfactants by Thin-Layer Chromatogra-
                                                       phy: A Review“, Tenside Surfactants Detergents, 2010
                                                       Bickel, William S. „Time Dependence and Environmental
                                                       Effects Accompanying Adhesion Forces Between Small Partic-
                                                       les“, submitted to the Center for Microcontamination Control,
                                                       3. September 1986
                                                       Biebl, U. „Reinheitsprobleme der naßchemischen Prozesse in
                                                       der Halbleiterfertigung“, Vortrag Concept-Symposium, Gase
                                                       und Flüssigkeiten in der Reinraumtechnik, November 1986,
                                                       Frankfurt Main
                                                       Bier, Axel „Einführung in die Ionenselektive Messung“, Hach
                                                       Lange GmbH, 2010
                                                       Bilke-Krause, Christine „Wenig Aufwand - große Wirkung!


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