Page 203 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

12.2 MIKROSKOPIE

12.2.1 Raster-Elektronenmikroskop (mit EDX)

Elektronen-Mikroskop im PC-Format für Aufnahmen mit real bis zu 20.000-
facher Vergrößerung. Mit diesem Gerät können die sehr feinen Garn- und
Filament-Strukturen von HiTech-Wischmitteln und anderen Verbrauchs-
materialien der Reintechnik im Mikrometer-Maßstab visualisiert werden.
Außerdem lassen sich Kontaminations-Spuren darstellen und deren Element-
Struktur mittels Energie-dispersiver Röntgen-Analyse (EDX) bestimmen.
Anhand der Partikel-Morphologie und Elemente-Kombination kann oftmals
auch deren Ursprung im Sinne einer Produktionsfehler-Analyse ermittelt
werden. Zuletzt wurde damit bei uns der biologische Abbau von HiTech-Rei-
nigungsvliesstoffen im Erdreich (natürliche Kompostierung) über die Dauer
von mehreren Wochen dokumentiert und visualisiert.

12.2.2 Optisches Mikroskop

Die Lichtmikroskopie ist bei vielen Visualisierungs-Aufgaben in Technik und
Wissenschaft die Methode der Wahl zur Lösung von Fragestellungen der
Reintechnik. Die Mikro-Strukturen von HiTech-Reinigungs-Tüchern lassen
sich durch verschiedene Methoden sehr gut darstellen. Dazu gehören
beispielsweise optische Partikelanalysen auf Oberflächen mit Hellfeld-,
Dunkelfeld-, Fluoreszenz- und Interferenz-Kontrast. Zudem lassen sich
mittels automatisch aneinander gereihter (gestitchter) Aufnahmen auch
größere Oberflächen sehr scharf darstellen und Video-Aufnahmen von
zeitlichen Abfolgen machen. Die Focus-Stacking-Technik erlaubt es uns, die
Tiefenschärfe-Beschränkungen der optischen Mikroskopie zu umgehen und
farbechte Visualisierungen mit der von elektronen-mikroskopischen Bildern
gewohnten Schärfe zu realisieren.

12.2.3 DIC-Mikroskop
Das Differential-Interferenz-Kontrast-Mikroskop leistet uns insbesondere dort
gute Dienste, wo kontrastarme, schichtförmige Oberflächen-Kontaminanten
wie Öl-, Fett- und TDH (time-dependent-haze) kontrastreich abgebildet
werden sollen. Gleichzeitig lassen sich mittels DIC einzelne, in den Oberflä-
chenfilm eingebundene Partikel selektieren, zählen und betrachten.
Bei der Methode werden optische Weglängen-Differenzen im Betrachtungs-
Objekt in bildimmanente Helligkeits-Unterschiede gewandelt. Dies führt zu
einer eindrucksvollen, quasi-plastischen Bildgebung. Durch entsprechende
Filter-Kombinationen lassen sich Kontrast und Farbgebung der Bilder genau
bestimmen.

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