Page 145 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

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Wischrückstand mittels ToF-SIMS messen n
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P Prüf-Folie mittels ToF-SIMS S
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durchführen n analysieren n e einzelner Wischrückstands- -
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Spezies auf Prüf-Folie
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Wisch-Rückstand mittels zentrifugaler Klebkraft-Analyse messen
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W is c hp r o z e du r a u f P r ü f - Prüfkörper auf f Kraft beim Bruch der r
Wischprozedur auf Prüf-
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Oberfläche mittels Prüf-Oberfläche Klebverbindung E Ergebnis: Klebkraft- -
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Filament-Oberfläche mittels Elektronen-Mikroskopie (REM) messen n
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Partikel-Abgabe mittels Flüssigkeits-Partikelzählers bestimmen (IEST-RP-CC004.4) )
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P Prüfling in 600 ml l P Prüfling in der Prüf- f - Größenverteilung und E Ergebnis: :
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Prüf-Flüssigkeit Flüssigkeit für 5 min Menge mittels Partikel-Abgabe pro
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Partikel-Abgabe Licht-mikroskopisch bestimmen
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P Prüfling drei Mal für 3 A Aliquot des Prüf- f - P Positionen auf der r Partikel-Abgabe pro
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Sek. in DI-Wasser r Wasser über r Filtermembran m² (> 0,2 µm, in
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