Page 152 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

ein Fehler, anzunehmen, dass eine Verunreinigung technischer
Oberflächen z. B. ausschließlich aus Partikeln bestünde. Dies
würde voraussetzen, dass es eine Oberfläche idealer Reinheit
gäbe, welche ausschließlich durch einen Partikelbelag verunrei-
nigt wäre. Die Erfahrung zeigt jedoch, dass die Mehrzahl von
1 Verunreinigungen im Fertigungsumfeld der HiTech-Industrien
im Wesentlichen aus einem Gemisch dünner, zumeist organi-
scher Schichten und Partikeln besteht. Als wirksame, Verunrei-
+ nigungs-Masse muss daher ein dünnschichtiger, niederviskoser
- 2 Schmier aus Prozess-Rückständen, atmosphärischen Abla-
gerungen, Lösungsmittel-Rückständen zuvor erfolgter Reini-
3 gungs-Prozeduren und darauf abgelagerter Partikel angenom-
men werden. Als messtechnisch brauchbares und praxisnahes
4 Substitut für solche dünnschichtigen Ablagerungen lässt sich
somit ein mittelviskoses mineralisches Öl, das z. B. mit einem
Reinigungsbenzin verdünnt ist einsetzen. Bei der Anmischung
5 dieser Zubereitung ist darauf zu achten, dass das Gemisch
homogen ist und bei einer Anregung im Wellenlängenbereich
6 von 266 oder 355 nm ausreichend fluoresziert.
1 starr aufgehängter Elektromotor
2 Drehmomentgeber N/cm (bei Mark II) Zur Bestimmung der Reinigungs-Leistung von Präzisions- und
3 flexible Kupplung
4 Rotorblock Fein-Reinigungs-Tüchern auf verschiedenen Oberflächen muss
5 Wischmittel-Prüfling zunächst die Möglichkeit gefunden werden, eine stets gleich
6 Schale mit rauem Boden bleibende Masse z. B. eines Fluoreszenz-Öls, in der o. a.

Abb. 4 Schema der Labuda-Rotations-Wischsimulatoren Zubereitung von uns als „Fluorol“ benannt, flächig auf die
Mark I und II Prüf-Oberfläche aufzubringen. Es muss dabei vor Allem sicher-
gestellt sein, dass die Auftragsmenge des Öls innerhalb der
eingestellten Messgrenzen des Kontavisor-Gerätes liegt und
innerhalb statistischer Grenzen stets gleich bleibt. Mit Hilfe des
bekannten Labuda Rotations-Wischsimulators Mark II (Abb. 4)
oder auch des Labuda Linear-Wischsimulators Mark II (aus-
führlich beschrieben auf S. 165 ff.) lässt sich eine, auf die
Prüfoberfläche aufgebrachte Fluorol-Schicht unter kont-
rollierten Bedingungen durch Wischen entfernen und so
die Reinigungs-Leistung des Prüflings in % Abtrag von der
aufgetragenen Verunreinigungs-Masse bestimmen. Die o. a.
Wischsimulatoren erlauben es, jedes beliebige Wischmittel zu
prüfen und zudem die Einstellungen der Parameter Wischweg,
Wischgeschwindigkeit und Andruckkraft zu variieren. Auch
lassen sich Teile der Metallplatten, auf denen die Wischvor-
gänge stattfinden, austauschen. So lassen sich beispielsweise
Prüf-Oberflächen unterschiedlicher Materialbeschaffenheit
einsetzen. Aus den derart ermittelten Daten der Reinigungs-
Leistung lassen sich die folgenden Erkenntnisse gewinnen:

• Die Dauer der Reinigungs-Prozedur bei Einsatz eines
bestimmten Tuchs bis zu einem vorbestimmten Reinigungs-
grad in % der ursprünglichen Verunreinigungs-Masse.
• Die Reinigungs-Leistung in % (Effektivität) eines bestimm-
ten Reinigungstuchs bei vorgegebener Reinigungszeit oder
die maximale Reinigungs-Leistung eines bestimmten Tuchs.
• Die Reinigungs-Leistung von Tüchern bei Tränkung durch
verschiedene Lösungsmittel.

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