Page 7 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

6.2.3 Zentrifugale Klebkraft-Bestimmung 111
6.2.4 Oberflächen-Analyse mittels ToF-SIMS 112
6.2.5 Time of Flight – Secondary Ion Mass
Spectroscopy / Flugzeit-Sekundärio-
nen-Massenspektrometrie 112
6.2.6 Visualisierung mittels DIC-Mikro-
skopie / DIC-Mikroskopie in der
Materialforschung 113
6.2.7 Schichtdicken-Messung durch
Ellipsometrie 115
6.2.8 Massebestimmung durch
Piezo-Gravimetrie 117
6.2.9 Die Fluoreszenz-Spektroskopie zur
Bestimmung der Effektivität wischen-
der Reinigungs-Systeme 119
6.2.10 Infrarotspektroskopie (FTIR) zur
chemischen Oberflächen-Analytik 121
6.3 Metrologie der Material-Reinheit 122
6.3.1 Zeta-Durchfluss-Potential-Bestimmung 122
6.3.2 Der Entladungs-Zeitwert 125
6.3.3 Kalibrierung des Prüfsystems zur
Bestimmung des Entladungszeitwerts 126
6.3.4 Messung der ionischen Kontamination 128
6.3.5 Ionenbestand von HiTech-Wischmitteln 128
6.3.6 Summenparameter (TOC - Total
Organic Carbon) 131
6.3.7 Zur TOC-Analytik (Total Organic
Carbon) 131
6.3.8 Erläuterungen zur Kontaminations-
Analyse textiler Flächengebilde 133
6.3.9 Die Prüfungs-Durchführung zur
Bestimmung der TOC (Organischer
Gesamtkohlenstoff): Total Organic
Carbon 135
6.3.10 VOC-Ausgasung, Bestimmung mittels
SPME Festphasen-Extraktion nach
Pawliszyn und GC-MS 136
6.3.11 Die Prüfmethode der SPME-Technik
nach Pawliszyn (Festphasen-Mikroex-
traktion): Solid Phase Micro Extraction 139
6.3.12 Zur Anreicherung von Ausgasungen in
wiederaufbereiteten HiTech-Overalls 140
6.3.13 Ausgasung von Atem-Masken (Schutz-
klasse FFP2) 141
6.4 Ein Nachwort 147
6.5 Glossar 147
6.6 Dank 147
6.7 Literatur 147

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