Page 50 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

Massetransfer Test
• Clear/Clean - Partikel/Faser-Kollektorplatten-Transfertest

rotativ-mechanische Agitation (Schalentest nach Labuda)
• Rotieren des trockenen oder Lösungsmittel-getränkten
Prüflings über eine Prüfoberfläche bestimmter Spitzen-
dichte und Kurtosis. Diese ist als Schalenboden einer
Flachschale aus Edelstahl konzipiert. Die Schale wird nach
Prüfungsablauf mit DI-Wasser befüllt, welches anschlie-
ßend filtriert und einer Partikelanalyse unterzogen wird
(siehe Erwähnung in VDI 2083 Bl. 9.2 - Literaturangaben).
Abb. 16 Rotations-Wischsimulator Mk II nach Labuda und Um HiTech-Wischmittel unterschiedlicher Herkunft, Konstruk-
Schöttle zur Simulation von Abrieb-generierten Partikeln
und Faserfragmenten in den Wischmittel-Körper hinein tion und Herstellungs-Verfahren neben ihrer Reinigungs-Funk-
(Redeposition). tion auf ihre gebrauchsbedingte Kontaminations-Wahrschein-
lichkeit von Objektoberflächen zu untersuchen, haben sich
einige Unternehmen der Entwicklung von Simulator-Hardware
für die Partikel-Freisetzung bzw. Generierung gewidmet. Mit
deren Hilfe lassen sich HiTech-Wischmittel im Hinblick auf die
gebrauchsbedingte Abgabe von Partikeln, so wie organischen
und anorganischen Schichten untersuchen und klassifizieren.
Solche Prüfmethoden können Teil nationaler, internationaler
oder Firmen-eigener Prüfnormen sein. (Bekannteste Norm:
IEST RP CC 004.4 des US Institute of Environmental Scien-
ces and Technology). Die Prüfnormen sind jedoch stets nur
so sinnvoll wie die Gremien die sie formulieren - intelligent,
erfahren visionär und unabhängig sind.
In der Fachliteratur bzw. als Netzpublikation sind u. a. die
folgenden Unternehmen als Entwickler oder Hersteller solcher
Geräte erwähnt:

• CCI von Kahlden GmbH: DLS - Druckluftsonde, Helmke
Drum, Partikel-Visualisierungs-Lampe, Nebelgeräte, Oberflä-
chen-Particle-Tracing, Content-Visualisierung
• Clear & Clean GmbH: CC-Microlite - Schräglichtleuchte zur
Partikel-Visualisierung auf Kollektor-Platten und Reinraum-
Oberflächen so wie 5 Wischsimulatoren nach Labuda/
Schoettle
• Dryden Engeneering Comp. Inc. (subsidiary of MDW Ind.
Serv.Group, USA) Clean-Products Testing Instruments
• IDM-Instruments PTY Ltd., Australia – modifiziertes
Gelboflex-Gerät

Die Ursache der Mess- und Prüf-Problematik von HiTech-
Wischmitteln liegt bei der Fehleinschätzung der Verunreini-
gungs-Mechanik im Rahmen wischender Reinigungs-Proze-
duren. Dadurch ist eine Diskrepanz zwischen der Realität der
Wischmittel-gestützten Reinigungs-Prozedur und deren Simu-
lation durch die Gremien, Institute und Anwender entstanden.
Abb. 17 Raster-Kraftmikroskopische Aufnahme Weil die bisher entwickelten Prüf-(Simulations)-Geräte den
einer im Sauerstoff-Plasma gereinigten CC- Reinigungs- bzw. Verunreinigungs-Vorgang durch Wischmittel
Kollektorplatte. Bildbreite 49,5 µm.

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