Page 51 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen
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nur zum geringeren Teil realitätsnah abbilden, kommt es in der
gesamten Reintechnik-Branche zu erheblichen Fehleinschät-
zungen der realen Verunreinigungs-Problematik durch HiTech-
Wischmittel, wie nachstehend ausgeführt wird. Ein weiterer
Aspekt ist der relativ geringe Bedarf an Wischmitteln mit
speziellem HiTech-Content.
3.8 Fazit 1- Schätzungsweise über die Hälfte aller Wischmittel-gestütz-
ten Reinigungs-Arbeiten erfolgen mit Hilfe eines Lösungsmittel-
Auftrags auf das Wischmittel und zwar aus einer Spritzflasche
ohne Sprühnebelkopf.
2- Bei dem Rest der Reinigungs-Arbeiten finden Herstellungs-
gemäß Lösungsmittel-getränkte Wischmittel Einsatz, die
entweder in wieder verschließbarer Folien-Verpackung mit
Adhesions-Verschluss oder im Mini-Eimer mit Deckelverschluss
angeboten werden.
3- Prüfmethoden für die gebrauchsbedingte Partikel-Freiset-
zung von HiTech-Wischmitteln sollten unbedingt den realen
Gebrauchsstress simulieren. (Wischvorgang im 15 s lang abge-
tropften Feuchtzustand, Wischgeschwindigkeit z. B. 200 mm/s,
vertikaler Wirkdruck = 0,6 kg/gesamte Rotationsfläche)
4- Prüfmethoden die im Wesentlichen auf dem Agitationskon-
zept mechanischer (pneumo- und hydromechanischer) Agita-
tion beruhen (das sind alternierende Longitudinal-Bewegungen
nach Moschner, oszillierendes Flexen nach Gelbo gemäß DIN
EN ISO 9073-10, Durchsaugen nach ASTM-F51-68, Auswasch-
Extraktion nach IEST RP CC 004.4, rotierendes Durchschütteln
nach Helmke - erwähnt in IEST RP CC 003.2, Walken nach
Schöttle/Labuda).
Alle die unter Abs. 4 genannten Methoden simulieren nicht
Abb. 18 Raster-Kraftmikroskopische Aufnahme
einer CC-Kollektorplatte nach feuchter Wisch- den realen, bei einer wischenden Reinigungs-Prozedur auftre-
Prozedur mit einem HiTech-Reinigungstuch. tenden Faser- und Partikel-Abrieb. Insbesondere simulieren
Die Gold-Sphären (Modell-Partikel, D = 130 sie nicht die bedeutsame Wiedereinbindung eines Teils des
nm) sind in eine organische Textil-Ausrüstungs-
Schicht eingebettet. Bildbreite 10 µm. Partikelabriebs und der freigesetzten Faserfragmente in den
Wischmittelkörper nach vorangegangener Friktions-bedingter
Ablösung aus demselben. Die Methoden können daher nach
unserer Erkenntnis auch nicht als Prüfmethoden für die Parti-
kelfreisetzung von HiTech-Wischmitteln sein.
5- Selbst für die Simulation der Partikelfreisetzung von HiTech-
Wischmitteln im Rahmen der Verpackungs-Entnahme sind
die meisten der o. a. Methoden ungeeignet und es böte sich
an, den Prüfling genau wie bei der Verpackungs-Entnahme
durch ein schräg gestelltes Lochblech hindurch zu ziehen und
die dabei abgestreiften, herabfallenden Partikel unterhalb der
Lockblende zu zählen.
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