Page 66 - Zur Reinheit funktionaler Oberflächen

Topographie-bedingter Tuch-Abrieb
Alle diese o. a. Annahmen gelten lediglich solange der Para-
meter: Partikel- und Faserabrieb in Abhängigkeit von der
Oberflächen-Topographie außer Acht gelassen wird. Die oben
erläuterten Annahmen würden zunächst einmal lediglich für
Oberflächen geringer Rauheit von z. B. < Rz 1 µm zutreffen.

HiTech-Wischmittel erfahren im Rahmen ihres Gebrauchs im
Wesentlichen drei Arten von Stress:
● Den Abstreif-Stress im Rahmen der Verpackungs-Entnahme
(Herausziehen aus der Verpackung).
Abb. 13 Schalenmethode nach Labuda (siehe auch ● Den Gebrauchs-induzierten Biege-Stress im gasförmigen
VDI 2083 Blatt 9.2): Rotations-Wischsimulator Mk II Medium (Luft) durch Falten und Drücken des Wischmittels
nach der Verpackungs-Entnahme.
● Den Abrieb-Stress im Rahmen der wischenden Bewe-
gung über die Objekt-Oberfläche mit einer bestimmten
Oberflächen-Rauheit.

Labuda et al. haben das Oberflächen-Rauigkeits-Problem
prüftechnisch so gelöst, dass bei der Prüfung Partikel-Abrieb
nach der „Schalenmethode nach Labuda“ (11.7.3) der Prüfling
unter konstantem Wirkdruck über eine definierte Weglänge in
einer V4A-Prüfschale von definierter Boden-Rauigkeit bewegt
wird. Dies kann mit unterschiedlichen Mess-Vorrichtungen im
Feucht- oder aber im Trockenzustand geschehen. Die somit
freigesetzten Partikel und Faserfragmente repräsentieren die
Gebrauchs-induzierte Partikelfreisetzung im Rahmen einer
Rauheit Rz 5 Wischprozedur. Nach beispielsweise trockener Partikelfreiset-
zung durch rotierenden Wischvorgang kann die V4A-Schale mit
DIW angefüllt werden, die abgeriebenen Partikel befinden sich
Partikel-Abrieb [Part/cm² Wisch-Fläche] im DI-Waser und es kann eine Partikel-Zählung mittels Mikros-
kop oder automatischem Flüssigkeits-Partikelzähler erfolgen.

Partikel in der Luft
Neben Abrieb-Partikeln vom Wischmittel kommt es beim
wischenden Reinigungs-Vorgang anwendungsgemäß zur
Prüflings-Code
Gebrauchs-induzierten Partikelfreisetzung in die Umgebung
hinein. Diese zu messen sieht die IEST-Spezifikation jedoch
Rauheit Rz 27 nicht vor. Um die Mängel im physikalischen Prüfansatz der
IEST-Methode zu beseitigen war es nötig, Methoden zu entwi-
ckeln, die nicht auf der Basis der partikulären Material-Reinheit
Partikel-Abrieb [Part/cm² Wisch-Fläche] des Wischmittels als Messgröße funktionieren. Vielmehr
sollte ein verbessertes Prüfkonzept möglichst eine Korrelation
zwischen Gebrauchs-induzierter Partikelfreisetzung aus dem
Wischmittel und der dadurch bewirkten Kontamination einer
Objekt- bzw. Prüf-Oberfläche aufweisen. Dieses Prinzip findet
sich vom Grunde her in dem seit Jahrzehnten bekannten sog.
Prüflings-Code
modifizierten Gelboflex-Prüfgerät /13.3.19), das ursprünglich
Abb. 14 a + b Partikel-Abrieb ausgewählter HiTech-Rei- zur Prüfung der Knitterfestigkeit von Kunststoff-Folien entwi-
nigungs-Tücher (codierte Darstellung) bei zwei verschie- ckelt worden war. Das Gerät wurde im Laufe der Zeit mehrfach
denen Oberflächen-Rauheiten. Die Bestimmung erfolgte den Bedürfnissen der Messung der Partikelfreisetzung aus tex-
mittels Schalen-Methode nach Labuda mit dem Rotations-
Wischsimulator Mark II. Werte gemittelt aus 6 Prüfungen. tilen Werkstoffen in die Umgebung hinein angepasst (Abb. 17).

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